Das Niedrigenergie-Elektronenmikroskop an der Universität Leiden wird die Basis für die Optische Nahfeldelektronenmikroskopie (ONEM) bilden. ONEM ist eine neue Technik zur Abbildung von Grenzflächen im Nanobereich, die von Gruppen an der Universität Wien, am J. Heyrovský Institut der Tschechischen Akademie der Wissenschaften und an der Universität Leiden entwickelt wird.
Das Niedrigenergie-Elektronenmikroskop an der Universität Leiden wird die Basis für die Optische Nahfeldelektronenmikroskopie (ONEM) bilden. ONEM ist eine neue Technik zur Abbildung von Grenzflächen im Nanobereich, die von Gruppen an der Universität Wien, am J. Heyrovský Institut der Tschechischen Akademie der Wissenschaften und an der Universität Leiden entwickelt wird. B. van Wayenburg) - Das Projekt ONEM wird eine neue nicht-invasive Mikroskopietechnik zur Abbildung dynamischer Prozesse an Grenzflächen entwickeln, die sogenannte Optische Nahfeldelektronenmikroskopie. Unter der Leitung des Physikers Thomas Juffmann von der Universität Wien ist ONEM - das mit einem Budget von 3,7 Millionen Euro ausgestattet ist - einer von nur zwei Anträgen, die im Themenfeld "Measuring the Unmeasurable" der Ausschreibung des Europäischen Innovationsrates erfolgreich waren. Nun erfolgte der Kick-Off für das Projekt. Das Projekt wird von Forschungsgruppen der Universität Leiden, des J. HeyrovskÃoe Instituts für Physikalische Chemie der Tschechischen Akademie der Wissenschaften und der Universität Wien durchgeführt. "Die Dynamik an Grenzflächen abzubilden, ist für viele Bereiche in Wissenschaft und Technik von großer Bedeutung.
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